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(1) 量度殘留厚度是避免S/D region上面的thin oxide被etch掉而造成S/D表面的Si 有defect, OD pits導致後面process受影響而在形成S/D區時影響,如Rs及leakage. (2) 不同etch chamber很難達到完全相同的蝕刻結果. 利用街道厚度測量可以幫助 我們了解機台的穩定性.
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